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数显卡尺的原理图主要包括机械测量部分和电子测量部分，机械测量部分主要由尺身、尺框、滑槽等组成，用于实现物体的线性测量，电子测量部分主要包括电子电路和液晶显示模块等，用于将测量结果转化为数字信号并显示在显示屏上，数显卡尺的测量原理主要基于电磁感应技术，具体步骤如下：
数显卡尺的测量原理主要基于磁感应技术，其内部有一个线性可变磁阻传感器，该传感器由磁钢和线圈组成，当卡尺的尺框移动时，磁钢与线圈之间的相对位置发生变化，导致线圈中的磁通量发生变化，进而在线圈中产生感应电动势，这个感应电动势与卡尺的位移量成正比，即位移量越大，感应电动势越大，感应电动势随后被转换为数字信号并显示在显示屏上，数显卡尺内部还包含一些电子电路和微处理器等部件，用于对信号进行放大、滤波、模数转换等处理，最终得到精确的数字测量结果。
不同的数显卡尺可能存在不同的测量原理和细节设计，如果需要更详细或专业的信息，建议参考数显卡尺的技术手册或咨询相关技术人员。